Analisis Penyebab Defect Strike Marks On Active Side Of IC di Mesin Facedown pada Departemen COF PT Epson Batam

Setiawan, Bambang Heri (2019) Analisis Penyebab Defect Strike Marks On Active Side Of IC di Mesin Facedown pada Departemen COF PT Epson Batam. Skripsi thesis, Prodi Teknik Industri.

[img] Text
cover s.d bab III.pdf - Submitted Version

Download (9MB)
[img] Text
bab IV s.d bab V.pdf - Submitted Version
Restricted to Registered users only

Download (3MB) | Request a copy

Abstract

Kualitas menjadi tujuan yang utama dalam proses pembuatan suatu produk. Proses di mesin Facedown adalah proses dimana IC dan fleksibel tape digabungkan atau direkatkan dengan bantuan panas heater yang mencapai 400 derajat yang terdapat pada bonding tool mesin tersebut . Dan defect Strike Marks on active side of IC adalah defect yang hanya terjadi di proses mesin Facedown dimana gambaran defect tersebut adalah terjadi penyok atau cekukan pada fleksibel tape di area sirkuit aktif IC nya. Defect ini banyak terjadi pada model ROS2 yang mengakibatkan customer complaint karena terlewatnya defect tersebut ke tangan customer. Dari jumlah produksi pada bulan Desember 2018 dengan output pershiftnya 8800 yang dikalkulasikan dalam sebulan adalah sebanyak 272.800 pcs dengan total defect 3836 pcs dan dihitung kapabilitas sigma mesin facedown saat ini 3,69 Ϭ dari 14.000 DPMO dari hasil perhitungan CL= 0.0141, UCL = 0.0177 dan LCL= -0.0102 dan dibantu salah satu alat six sigma yaitu Define, Measure, Analyze, Improve, Control dalam meningkatkan kualitas produk dan mengurangi cacat

Item Type: Thesis (Skripsi)
Uncontrolled Keywords: Six Sigma, Define, Measure. Analize, Improve, dan Control: ix sigma, Define, Measure, Analyze, Improve and Control
Subjects: 600 Teknologi dan Ilmu-ilmu Terapan > 660-669 Teknologi Kimia dan Ilmu yang Berkaitan > 661.1 Teknologi Industri Kimia dengan Unsur-unsur Nonmetalik
Divisions: Fakultas Teknik dan Komputer > Teknik Industri
Depositing User: Lia Priscilla
Date Deposited: 27 Oct 2023 05:30
Last Modified: 27 Oct 2023 05:30
URI: http://repository.upbatam.ac.id/id/eprint/5184

Actions (login required)

View Item View Item